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中國(guó)臺(tái)灣泰仕推出新品TES-593高頻電磁波污染強(qiáng)度計(jì)
日期：2012-08-02瀏覽：3027次
中國(guó)臺(tái)灣泰仕推出新品TES-593高頻電磁波污染強(qiáng)度計(jì)
TES-593高頻電磁波污染強(qiáng)度計(jì)特點(diǎn)
•測(cè)試10MHz 至 8GHz頻率范圍
•等方性電磁場(chǎng)測(cè)量
•無(wú)方向性測(cè)量使用3軸測(cè)量感應(yīng)棒
•高動(dòng)態(tài)范圍使用3通道數(shù)位處里
•可規(guī)劃式警報(bào)限制值及儲(chǔ)存功能
•使用安全、簡(jiǎn)便
TES-593高頻電磁波污染強(qiáng)度計(jì)應(yīng)用
•高頻（RF）電磁波強(qiáng)度測(cè)量
•大哥大基地臺(tái)天線電磁波輻射強(qiáng)度測(cè)量
•無(wú)線通訊應(yīng)用（CW、TDMA、GSM、DECT）
•RF高頻電磁波使用安全
•RF高頻發(fā)射機(jī)功率測(cè)量
•無(wú)線網(wǎng)路（Wi-Fi）偵測(cè)、安裝
•無(wú)線針孔攝影機(jī)與竊聽(tīng)器之偵測(cè)
•家用無(wú)線電磁波輻射強(qiáng)度測(cè)量
•微波爐輻射泄漏偵測(cè)
•公司或家居環(huán)境電磁波安全防護(hù)評(píng)估
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- 美國(guó)BK PRECISION
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
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